基本信息:
- 专利标题： 一种用于功率循环测试的功率器件老化参数校正方法
- 申请号：CN202111533515.4 申请日：2021-12-15
- 公开(公告)号：CN114217261B 公开(公告)日：2022-09-09
- 发明人： 罗皓泽 , 吴强 , 周宇 , 陈宇 , 李武华 , 李成敏 , 朱安康 , 何湘宁
- 申请人： 浙江大学
- 申请人地址： 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 专利权人： 浙江大学
- 当前专利权人： 浙江大学
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 代理机构： 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理人： 郑海峰
- 主分类号： G01R35/04
- IPC分类号： G01R35/04
摘要：
本发明公开了一种用于功率循环测试的功率器件老化参数校正方法，包括以下步骤：S1、对老化特征参数的采集时序进行设计；S2、在功率循环的每个测试周期对老化参数进行采集，刻画出原始的老化参数退化曲线；S3、每隔固定的功率循环测试周期，对各个老化参数的温敏特性进行测量。在功率循环测试结束后，利用数据拟合等方法得到不同阶段的老化参数的温敏系数；S4、利用老化参数采集时刻的温度和老化参数的温敏系数对老化参数退化曲线进行温度解耦校正。本发明解决了传统功率循环测试中得到的老化参数退化曲线同时耦合了老化和温度变化影响的问题，利用老化参数自身的温敏特性进行了温度解耦校正，从而得到更真实的老化参数退化曲线。
公开/授权文献:
- CN114217261A 一种用于功率循环测试的功率器件老化参数校正方法 公开/授权日：2022-03-22
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R35/00 | 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准 |
| --------G01R35/04 | .测量功率或电流的时间积分的仪表的测试或校准 |