![用于探测系统的采样装置、探测系统及采样方法](/CN/2021/1/142/images/202110710746.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 用于探测系统的采样装置、探测系统及采样方法
- 申请号:CN202110710746.1 申请日:2021-06-25
- 公开(公告)号:CN114166542B 公开(公告)日:2024-02-09
- 发明人: 陈昶卓 , 包云肽 , 李元景 , 肖翼 , 张舜生 , 王迪 , 许定点 , 李璐璐
- 申请人: 苏州微木智能系统有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市高新区锦峰路8号5号楼2楼西侧及3楼整层
- 专利权人: 苏州微木智能系统有限公司,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 苏州微木智能系统有限公司,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市高新区锦峰路8号5号楼2楼西侧及3楼整层
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人: 张琛
- 主分类号: G01N1/02
- IPC分类号: G01N1/02 ; G01N1/44 ; G01N27/622
摘要:
本公开公开了一种用于探测系统的采样装置、探测系统及采样方法,属于安检设备技术领域。用于探测系统的采样装置包括:采样部件,采样部件上设置有至少一个用于对待检测物体进行采样的采样区域;和与采样部件连接的驱动部件,驱动部件被配置为能够驱动采样部件绕其旋转中心旋转,其中,在驱动部件的驱动下,采样部件能够旋转,采样区域与待检测物体接触和摩擦,以对待检测物体进行采样;以及在驱动部件的驱动下,采样部件能够旋转第一角度,使得采样区域位于探测系统的入口。本公开的用于探测系统的采样装置能够自动采样。
公开/授权文献:
- CN114166542A 用于探测系统的采样装置、探测系统及采样方法 公开/授权日:2022-03-11
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N1/00 | 取样;制备测试用的样品 |
--------G01N1/02 | .取样装置 |