基本信息:
- 专利标题： 密封件测试装置
- 申请号：CN202111282930.7 申请日：2021-11-01
- 公开(公告)号：CN114088556B 公开(公告)日：2023-05-16
- 发明人： 郭飞 , 陈齐垚 , 项冲 , 黄毅杰 , 程甘霖 , 张帆 , 贾晓红
- 申请人： 清华大学
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园
- 专利权人： 清华大学
- 当前专利权人： 清华大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园
- 代理机构： 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理人： 宋兴; 臧建明
- 主分类号： G01N3/40
- IPC分类号： G01N3/40 ; G01N3/06 ; G01M13/005 ; G01M13/00
摘要：
本公开实施例属于密封件测试技术领域，具体涉及一种密封件测试装置。本公开实施例旨在解决相关技术中密封件上压痕形成过程获取不准确的问题。本公开实施例的密封件测试装置包括用于安装密封件和密封配合件的位移结构，位移结构能够驱动密封件和密封配合件反复接触和分离，模拟工件反复启闭时密封件和密封配合件反复接触和分离的过程；位移结构上设置的图像获取设备能够实时获取密封件和密封配合件接触和分离时的图像，测试不同预设条件下密封件表面压痕的形成过程。
公开/授权文献:
- CN114088556A 密封件测试装置 公开/授权日：2022-02-25
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N3/00 | 用机械应力测试固体材料的强度特性 |
| --------G01N3/40 | .测试硬度或回弹硬度 |