基本信息:
- 专利标题： 一种检测痕量六氟化硫的装置及方法
- 申请号：CN202111501167.2 申请日：2021-12-09
- 公开(公告)号：CN114034644A 公开(公告)日：2022-02-11
- 发明人： 林莘 , 刘双双 , 马凤翔 , 徐建源 , 张佳 , 庚振新 , 朱峰 , 崔兆轩 , 封鼎 , 韩磊 , 刘祥峰 , 李辉
- 申请人： 沈阳工业大学 , 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 , 平高集团有限公司
- 申请人地址： 辽宁省沈阳市经济技术开发区沈辽西路111号; ;
- 专利权人： 沈阳工业大学,国网安徽省电力有限公司电力科学研究院,平高集团有限公司
- 当前专利权人： 沈阳工业大学,国网安徽省电力有限公司电力科学研究院,平高集团有限公司
- 当前专利权人地址： 辽宁省沈阳市经济技术开发区沈辽西路111号; ;
- 代理机构： 沈阳东大知识产权代理有限公司
- 代理人： 李珉
- 主分类号： G01N21/17
- IPC分类号： G01N21/17
摘要：
本发明提供一种检测痕量六氟化硫的装置及方法，涉及光声光谱检测技术领域。本装置包括光声腔、主控制器、电磁阀和空气泵、信号处理系统、降温风扇，其中所述声光腔包括激光器、扩束镜、声光腔腔体；声光腔腔体其中包括上下反射板、进出气口、腔体、光纤、声压传感器和温度传感器；通过光声腔的合理设计，使系统的检测灵敏度在很大程度上得到提高。能够对低浓度的六氟化硫进行检测，速度快、可靠性高、抗干扰能力强。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/17 | .入射光根据所测试的材料性质而改变的系统 |