
基本信息:
- 专利标题: 结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法
- 申请号:CN202111335340.6 申请日:2021-11-11
- 公开(公告)号:CN113899303A 公开(公告)日:2022-01-07
- 发明人: 许亮华 , 罗国虎 , 李春雷 , 王海波 , 王少华 , 曾新翔 , 高建勇 , 任绍成 , 李金伟 , 姜明利 , 王熙 , 瞿洁 , 倪马兵 , 赵文俊 , 李红涛 , 王雄飞 , 孙铭君 , 刘扬
- 申请人: 中国水利水电科学研究院 , 安徽金寨抽水蓄能有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区玉渊潭南路1号;
- 专利权人: 中国水利水电科学研究院,安徽金寨抽水蓄能有限公司
- 当前专利权人: 中国水利水电科学研究院,安徽金寨抽水蓄能有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区玉渊潭南路1号;
- 代理机构: 北京中和立达知识产权代理有限公司
- 代理人: 祝妍
- 主分类号: G01B7/16
- IPC分类号: G01B7/16 ; G06F17/15
摘要:
本发明公开了一种结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法,其通过将拱形弹性基座跨设在微裂缝开裂预计位置上方,并在拱形弹性基座顶部的弧形内壁和弧形外壁上分别对应贴附设置第一应变片和第二应变片,从而将结构表面微裂缝的张合产生的横向动态位移变化转化为拱形弹性基座顶部上下表面的弯曲应变变化,通过第一应变片和第二应变片分别作为半桥电阻与应变测量模块电性连接组成半桥测量电路,测量得到第一应变片和第二应变片的弯曲应变变化,即拱形弹性基座顶部的弯曲应变变化,基于拱形弹性基座的端部位移变化与其弯曲应变变化呈线性关系,确定拱形弹性基座的端部位移变化,即测量得到微裂缝动态位移变化。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B7/00 | 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 |
--------G01B7/16 | .用于计量固体的变形,例如电阻应变仪 |