基本信息:
- 专利标题： 一种屏蔽材料热中子透射率测量装置
- 申请号：CN202110982186.5 申请日：2021-08-25
- 公开(公告)号：CN113866188B 公开(公告)日：2024-04-12
- 发明人： 唐智辉 , 谷伟刚 , 方登富 , 张庆利 , 务圣杰 , 李志刚 , 韦应靖
- 申请人： 中国辐射防护研究院
- 申请人地址： 山西省太原市小店区学府街102号
- 专利权人： 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人： 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人地址： 山西省太原市小店区学府街102号
- 代理机构： 北京天悦专利代理事务所
- 代理人： 田明; 任晓航
- 主分类号： G01N23/02
- IPC分类号： G01N23/02
摘要：
本发明公开了一种屏蔽材料热中子透射率测量装置，包括准直器和探测器，准直器包括筒体和法兰，筒体的一端开设有准直孔，筒体的中心线和准直孔的中心线重合，筒体的侧壁开设有安装孔，法兰密风盖设在安装孔上，探测器的探测臂安装在法兰内，探测器的探测头位于筒体的中心线上，在使用时，中子束正对准直孔，在不添加屏蔽材料的情况下，可以通过探测器分别测量准直器闭合和开启状态下探测器的计数率，然后将被测试的屏蔽材料样品置于准直孔前面，样品中心与准直器的中心重合，中子束正对样品中心，可以通过探测器分别测量准直器闭合和开启状态下探测器的计数率，从而通过两次计数率的不同计算出屏蔽材料的透射率。
公开/授权文献:
- CN113866188A 一种屏蔽材料热中子透射率测量装置 公开/授权日：2021-12-31
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |