![安检设备调试方法、装置、安检方法和设备](/CN/2020/1/95/images/202010477379.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 安检设备调试方法、装置、安检方法和设备
- 申请号:CN202010477379.0 申请日:2020-05-29
- 公开(公告)号:CN113791459A 公开(公告)日:2021-12-14
- 发明人: 王永明 , 涂俊杰 , 陶海鹏 , 许艳伟 , 于昊
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理人: 曹蓓
- 主分类号: G01V13/00
- IPC分类号: G01V13/00 ; G01V5/00 ; G01N23/04
摘要:
本公开提出一种安检设备调试方法、装置、安检方法和设备,涉及安检技术领域。本公开的一种安检设备调试方法,包括:获取被测车辆的位置;根据被测车辆的位置触发激活图像探测装置获取被测物体的非辐射探测图像;根据第一帧非辐射探测图像的探测范围调整触发的时机;其中,图像探测装置的探测区域与辐射探测装置的探测区域相当,且在安检探测过程中:采用与调试过程中触发图像探测装置相同的时机,触发辐射探测装置改变工作状态;或,同步触发改变图像探测装置和辐射探测装置的工作状态。这样的安检设备调试方法能够避免在调试过程中对工作人员造成伤害,提高调试过程中的安全性。
公开/授权文献:
- CN113791459B 安检设备调试方法、装置、安检方法和设备 公开/授权日:2022-11-01
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01V | 地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物 |
------G01V13/00 | 包括在G01V1/00至G01V11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理 |