基本信息:
- 专利标题： 一种自动温循测试装置和方法
- 申请号：CN202010385906.5 申请日：2020-05-09
- 公开(公告)号：CN113624250A 公开(公告)日：2021-11-09
- 发明人： 尹伟伟 , 杨业明 , 权晓蕾 , 郭悦 , 陈留涛 , 林渊 , 刘丽颖 , 秦振汉
- 申请人： 航天科工惯性技术有限公司
- 申请人地址： 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼3层
- 专利权人： 航天科工惯性技术有限公司
- 当前专利权人： 航天科工惯性技术有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼3层
- 主分类号： G01C25/00
- IPC分类号： G01C25/00
摘要：
本发明提供一种自动温循测试装置和方法，通过以下步骤实现：根据温循测试的要求，对段信息和事件信息进行动态参数信息配置；设置开始起始段序号N；设置起始段开始时间T；设置循环开始序号和次数；执行序号N的段信息，并检查是否有事件触发，若有则执行触发的事件；触发的事件完成后或无触发事件，检查是否有段循环，若有，则循环执行指定段信息，若无，则执行N+1段信息，直到所有段信息执行完毕。本发明通过段信息和事件信息的配置，在不同的测试过程中只需改变相应的段信息和事件信息的配置，不需要重新进行设计、编码、测试和实现，能快速、高效的实现温循测试流程。
公开/授权文献:
- CN113624250B 一种自动温循测试装置和方法 公开/授权日：2024-05-10
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01C | 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学 |
| ------G01C25/00 | 有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理 |