基本信息:
- 专利标题： 一种基于KL距离的板级电路测点选择方法
- 申请号：CN202110776895.8 申请日：2021-07-09
- 公开(公告)号：CN113533946A 公开(公告)日：2021-10-22
- 发明人： 尚玉玲 , 韦淞译 , 苏欣 , 侯杏娜 , 叶晓静 , 李春泉 , 范海花 , 姜辉
- 申请人： 桂林电子科技大学
- 申请人地址： 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号
- 专利权人： 桂林电子科技大学
- 当前专利权人： 桂林电子科技大学
- 当前专利权人地址： 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号
- 主分类号： G01R31/3167
- IPC分类号： G01R31/3167
摘要：
一种基于KL(Kullback‑Leibler)距离的板级电路测点选择方法，首先对电路仿真测量各个故障类型各个测点某一时间段内时域电压数据并对数据进行核密度估计并保存得到的概率密度函数，引入离散KL距离实现计算出测点集的故障隔离率。利用故障隔离率和测试点数量构造多维适应度函数，故障隔离率越高测点选择数越少的测点集越优，搜索全局最优测试点集。本发明专利无需建立故障字典进行故障隔离度的计算，通过引入核密度估计和离散KL距离将故障隔离计算转换为概率分布情况差异计算，充分利用了时域电压数据，提高测点集隔离率，利用故障隔离率和测试点数量构造人工鱼算法的多维适应度函数实现最优测点集选择，并通过在人工鱼算法中引入繁衍行为改善陷入局部最优解的情况。
公开/授权文献:
- CN113533946B 一种基于KL距离的板级电路测点选择方法 公开/授权日：2024-05-14