![一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置](/CN/2021/1/145/images/202110726814.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置
- 申请号:CN202110726814.3 申请日:2021-06-29
- 公开(公告)号:CN113484899B 公开(公告)日:2022-06-28
- 发明人: 谢宏明 , 牛海华 , 武军霞 , 贾欢 , 袁辰彰 , 李志学 , 杜泽 , 魏源 , 李丽莉 , 尹佳 , 张雍 , 朱光宇 , 杨建成
- 申请人: 中国科学院近代物理研究所
- 申请人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理人: 刘小娟
- 主分类号: G01T1/29
- IPC分类号: G01T1/29
摘要:
本发明涉及一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置。所述丝靶沿束流前进方向依次包括:第一偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;第一信号丝层,设置水平平行信号丝或设置竖直平行信号丝,被配置为对束流进行垂直剖面的测量或被配置为对束流进行水平剖面的测量;第二信号丝层,设置竖直平行信号丝或设置水平平行信号丝,被配置为对束流进行水平剖面的测量或被配置为对束流进行垂直剖面的测量;第二偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;金属刮束片层,设置金属片,被配置为阻挡及测量束晕边缘的粒子。本发明能够高效抑制高辐射区反冲剂量和杂散电子干扰,并能进行靶前束流边缘粒子即束晕的测量。
公开/授权文献:
- CN113484899A 一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置 公开/授权日:2021-10-08
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |
--------G01T1/29 | .对辐射束流的测量,例如,测量射束位置或截面;辐射的空间分布的测量 |