基本信息:
- 专利标题： 用于定位高密度电路故障位置的电路和故障测试方法
- 申请号：CN202110556791.6 申请日：2021-05-21
- 公开(公告)号：CN113391189B 公开(公告)日：2023-03-31
- 发明人： 李威 , 王士敏 , 李计考 , 宋小来 , 朱泽力 , 周威云
- 申请人： 深圳莱宝高科技股份有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市光明新区高新技术产业园区五号路9号
- 专利权人： 深圳莱宝高科技股份有限公司
- 当前专利权人： 深圳莱宝高科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市光明新区高新技术产业园区五号路9号
- 代理机构： 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理人： 夏智海
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/52
摘要：
本申请涉电路测试，提供了一种用于定位高密度电路故障位置的电路和故障测试方法，电路包括：第一测试图形包括：一个一级测试点以及多个用于连接所述高密度电路第一侧的偶数端子的末级测试点，其中每个所述末级测试点连接两个以上的所述偶数端子，所述一级测试点与所有所述末级测试点通过线路连接；第二测试图形，包括用于连接所述高密度电路第二侧的奇数端子的第二侧测试点；其中，所述第一测试图形和所述第二测试图形分别加载具有电势差的电压，并根据所述高密度电路的电路参数判断所述故障位置。能够快速定位到高密度电路的故障线路，提高了测试效率和准确率。
公开/授权文献:
- CN113391189A 用于定位高密度电路故障位置的电路和故障测试方法 公开/授权日：2021-09-14
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |