基本信息:
- 专利标题： 一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法
- 申请号：CN202110486176.2 申请日：2021-04-30
- 公开(公告)号：CN113375581B 公开(公告)日：2022-12-13
- 发明人： 谢涌 , 刘晨阳 , 牟云琪 , 白艳 , 王浩林 , 胡文帅 , 马晓华
- 申请人： 西安电子科技大学
- 申请人地址： 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 专利权人： 西安电子科技大学
- 当前专利权人： 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 代理机构： 西安嘉思特知识产权代理事务所
- 代理人： 刘长春
- 主分类号： G01B11/16
- IPC分类号： G01B11/16 ; G01N21/63 ; G01N21/65
摘要：
本发明提供的一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法，将低维材料转移到装置的柔性衬底上，再将柔性衬底固定在支撑板上，通过测试装置中心的旋转支撑件对衬底和材料施加单轴应变，然后通过旋转衬底的角度，改变应变方向，可以实现对低维材料不同方向应变测试。同时本发明的测试装置可以和激光共聚焦显微拉曼光谱仪结合使用，可以实时对材料的拉曼和光致发光光谱进行测试。
公开/授权文献:
- CN113375581A 一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法 公开/授权日：2021-09-10
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/16 | .用于计量固体的变形，例如光学应变仪 |