基本信息:
- 专利标题： 一种对工程地质条件勘察方法
- 申请号：CN202110106616.7 申请日：2021-01-26
- 公开(公告)号：CN113218374A 公开(公告)日：2021-08-06
- 发明人： 许汉华 , 刘文连 , 眭素刚 , 雍伟勋 , 丁飞 , 刘启玉 , 张腾龙 , 李泽 , 王光进 , 槐以高 , 龚宪伟 , 余绍维 , 秦勇光 , 郑庭 , 李红林
- 申请人： 中国有色金属工业昆明勘察设计研究院有限公司
- 申请人地址： 云南省昆明市盘龙区东风东路东风巷1号
- 专利权人： 中国有色金属工业昆明勘察设计研究院有限公司
- 当前专利权人： 中国有色金属工业昆明勘察设计研究院有限公司
- 当前专利权人地址： 云南省昆明市盘龙区东风东路东风巷1号
- 代理机构： 北京国坤专利代理事务所
- 代理人： 赵红霞
- 主分类号： G01C15/00
- IPC分类号： G01C15/00
摘要：
本发明公开了一种对工程地质条件勘察方法，包括以下步骤：步骤1，地形地貌的勘察；步骤2，地质构造的勘察：包括勘察区的褶皱区域褶皱影响、勘察区断裂情况；步骤3，场地地层岩性及分布；步骤4，地球物理背景调查：据利用前期工程勘察资料进行现场踏勘；步骤5：地球物理特征研究：由于岩土体的电性特征与岩性、矿物成分及湿度密切相关，且高密度电阻率法在测试中受测区地形变化影响较大。本发明中初步查明了勘探范围内第四系覆盖层厚度、基岩面起伏形态及风化界线，为挖方区土石比计算提供必要的依据；初步查明场地范围内的岩溶分布范围、大致规模及其展布规律，为工程地质条件评价提供必要的依据；初步查明断层等构造的位置、破碎带宽度、产状，为工程地质条件评价提供必要的依据。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01C | 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学 |
| ------G01C15/00 | 不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件 |