
基本信息:
- 专利标题: 一种劣化瓷绝缘子的检测方法
- 申请号:CN202110426397.0 申请日:2021-04-20
- 公开(公告)号:CN113092864A 公开(公告)日:2021-07-09
- 发明人: 赵晨龙 , 周军 , 文路 , 刘洋 , 黄瑞平 , 高嵩 , 陈杰
- 申请人: 清华珠三角研究院 , 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 , 中国电力科学研究院有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市黄埔区香雪八路98号(10)栋; ;
- 专利权人: 清华珠三角研究院,国网江苏省电力有限公司电力科学研究院,中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人: 清华珠三角研究院,国网江苏省电力有限公司电力科学研究院,中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市黄埔区香雪八路98号(10)栋; ;
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理人: 陈嘉雯
- 主分类号: G01R27/02
- IPC分类号: G01R27/02 ; G01N27/20
摘要:
本申请属于瓷绝缘子检测技术领域。本申请提供了一种劣化瓷绝缘子的检测方法。绝缘子浸泡在溶液中,溶液渗入绝缘子的内部通道,造成电阻值下降,通过对比浸泡前后的绝缘电阻值,从而判断是否存在劣化,能够准确区分劣化绝缘子的劣化程度,可用于瓷绝缘子的质量评估;还可以有效检测绝缘子的内部结构缺陷,本申请的检测方法操作简单、无需大型设备介入。本申请的检测方法是非破坏性试验,不会对绝缘子造成损伤,只需将绝缘子烘干即可恢复至初始状态,不改变试验前后绝缘子的结构和性能。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R27/00 | 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 |
--------G01R27/02 | .电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量 |