基本信息:
- 专利标题： IPM可靠性测试方法、装置、系统及计算机存储介质
- 申请号：CN202110337093.7 申请日：2021-03-29
- 公开(公告)号：CN112904138B 公开(公告)日：2024-05-24
- 发明人： 左安超 , 谢荣才 , 王敏
- 申请人： 广东汇芯半导体有限公司
- 申请人地址： 广东省佛山市南海区丹灶镇仙湖度假区养生路10号之一（住所申报）
- 专利权人： 广东汇芯半导体有限公司
- 当前专利权人： 广东汇芯半导体有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省佛山市南海区丹灶镇仙湖度假区养生路10号之一（住所申报）
- 代理机构： 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 隆毅
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R31/26 ; G01R31/52
摘要：
本发明公开一种IPM可靠性测试方法，包括：向待测IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第一漏电流并据此判断其是否失效；若有效，则将测试温度设置为第一预设温度并施加第二预设偏置电压；持续第二预设时长后，恢复至常温静态测试环境；向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第二漏电流；基于第二漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效；若有效，则将测试温度设置为第二预设温度测试湿度设置为预设湿度并施加第三预设偏置电压；持续第三预设时长后，恢复至常温静态测试环境；恢复至常温静态测试环境后，向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第三漏电流；基于第三漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效。
公开/授权文献:
- CN112904138A IPM可靠性测试方法、装置、系统及计算机存储介质 公开/授权日：2021-06-04
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |