
基本信息:
- 专利标题: 基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备
- 申请号:CN202011618862.2 申请日:2020-12-30
- 公开(公告)号:CN112834976A 公开(公告)日:2021-05-25
- 发明人: 李天辉 , 王向东 , 董驰 , 顾朝敏 , 张达 , 贾伯岩 , 李晓峰 , 路士杰
- 申请人: 国网河北能源技术服务有限公司 , 国网河北省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 河北省石家庄市体育南大街238号; ;
- 专利权人: 国网河北能源技术服务有限公司,国网河北省电力有限公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 国网河北能源技术服务有限公司,国网河北省电力有限公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市体育南大街238号; ;
- 代理机构: 石家庄国为知识产权事务所
- 代理人: 付晓娣
- 主分类号: G01R35/02
- IPC分类号: G01R35/02 ; G06F17/18
摘要:
本发明适用于传感器检测技术领域,提供了一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备,其中,该方法包括:在预设频段内按照预设数量的扫描点,测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数,得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线;获取第一相关系数、第二相关系数以及第三相关系数;如果存在小于预设阈值的相关系数,则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。采用本发明能够对特高频传感器的布置有效性及偏差进行校验。
公开/授权文献:
- CN112834976B 基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备 公开/授权日:2022-12-27
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R35/00 | 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准 |
--------G01R35/02 | .辅助装置的测试或校准,例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准 |