基本信息:
- 专利标题： 一种确定集成电路设计参数的模糊推理方法
- 申请号：CN202110085524.5 申请日：2021-01-22
- 公开(公告)号：CN112765918B 公开(公告)日：2023-08-18
- 发明人： 李迪 , 谌东东 , 杨银堂
- 申请人： 西安电子科技大学
- 申请人地址： 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 专利权人： 西安电子科技大学
- 当前专利权人： 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 代理机构： 西安正华恒远知识产权代理事务所
- 代理人： 傅晓
- 主分类号： G06F30/3308
- IPC分类号： G06F30/3308 ; G06N5/04 ; G06N7/02
摘要：
本发明公开了一种确定集成电路设计参数的模糊推理方法，包括以下步骤：搭建集成电路设计数据库；设定集成电路设计参数的目标性能指标，并将其与数据库中每个性能指标相减，获取每个设计参数对应的若干性能指标误差向量；利用模糊推理方法计算性能指标误差向量的隶属度；将性能指标误差向量的隶属度与数据库中对应的设计参数相乘并求和，得到达到目标性能指标的集成电路设计参数。本发明针对集成电路芯片研发过程中集成电路器件尺寸参数难以快速确定的难题，根据集成电路设计数据建立了数据库，利用模糊推理方法快速地估算出达到目标性能指标的设计参数，能够应用到集成电路设计中，为缩短集成电路设计周期提供新方法。
公开/授权文献:
- CN112765918A 一种确定集成电路设计参数的模糊推理方法 公开/授权日：2021-05-07
IPC结构图谱:
| G06F30/3308 | 使用模拟 |