基本信息:
- 专利标题： 一种基于参考标定的测温方法及装置
- 申请号：CN202011410426.6 申请日：2020-12-04
- 公开(公告)号：CN112665734B 公开(公告)日：2023-08-04
- 发明人： 顾宏 , 沈新华
- 申请人： 杭州新瀚光电科技有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市余杭区东湖街道红丰路650号52幢101室、201室、301室、401室、501室-4
- 专利权人： 杭州新瀚光电科技有限公司
- 当前专利权人： 杭州新瀚光电科技有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市余杭区东湖街道红丰路650号52幢101室、201室、301室、401室、501室-4
- 代理机构： 杭州杭诚专利事务所有限公司
- 代理人： 尉伟敏
- 主分类号： G01J5/52
- IPC分类号： G01J5/52 ; G01J5/54 ; G01J5/48 ; G01J5/90
摘要：
本发明公开了一种基于参考标定的测温方法及装置，包括以下步骤：将微面阵测温仪的光学中心与面阵测温仪的光学中心合一；获取大面阵中每个与微面阵对应的区域灰度方差Sx；获取其中最小方差区域Sm，以及该区域的平均灰度Gm；获取微面阵位置m点的温度Tm；通过Gm和Tm计算面阵中每个像元灰度与温度的转换参数Fij；将每个像元的当前灰度换算成温度值。上述技术方案将微面阵测温仪和大面阵测温仪结合，实时将微面阵测温仪测量的目标物表面温度作为面阵测温仪的测量基准，通过找到大面阵中图像均匀性最低处，将该处灰度与微面阵对应点的温度做标定，取得大面阵温度转换的基准，从而实现大面阵测温仪与微面阵测温仪一样的精度，大大降低了产品的成本。
公开/授权文献:
- CN112665734A 一种基于参考标定的测温方法及装置 公开/授权日：2021-04-16
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J5/00 | 辐射高温测定法 |
| --------G01J5/50 | .用下列各组指明的技术 |
| ----------G01J5/52 | ..应用与参考源作比较的方法，例如，隐丝高温计 |