![一种测量溶液中纳米颗粒粒度三维分布的方法及装置](/CN/2020/1/295/images/202011479142.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种测量溶液中纳米颗粒粒度三维分布的方法及装置
- 申请号:CN202011479142.2 申请日:2020-12-15
- 公开(公告)号:CN112595635A 公开(公告)日:2021-04-02
- 发明人: 吴学成 , 吴迎春 , 陈玲红 , 南海娇 , 郑成航 , 高翔 , 邱坤赞 , 岑可法
- 申请人: 浙江大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 代理机构: 杭州天勤知识产权代理有限公司
- 代理人: 白静兰; 胡红娟
- 主分类号: G01N15/02
- IPC分类号: G01N15/02 ; G01N21/49
摘要:
本发明公开了一种测量溶液中纳米颗粒粒度三维分布的方法:用激光束照射纳米颗粒,形成的散射光与经过光路调制的参考光干涉形成全息干涉条纹,并记录到相机上得到纳米颗粒数字全息图;对数字全息图进行三维重建,得到纳米颗粒的聚焦图像;根据聚焦图像中的散射信号,基于动态光散射原理和纳米颗粒的粒度与扩散系数的相关关系,求得纳米颗粒的粒度。本发明还公开了一种测量溶液中纳米颗粒粒度三维分布的装置:信号发射单元,包括连续激光器和光路调整段;信号接收单元,包括相机,记录全息干涉条纹;信号处理单元,连接于信号接收单元之后,用于纳米颗粒数字全息图的处理。该方法及装置实现了原位测量样品池内三维位置瞬时的纳米颗粒粒度分布。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N15/00 | 测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积 |
--------G01N15/02 | .测试颗粒的粒度或粒经分布 |