基本信息:
- 专利标题： 一种微弱信号抗干扰测量方法
- 申请号：CN202011269535.0 申请日：2020-11-13
- 公开(公告)号：CN112505536A 公开(公告)日：2021-03-16
- 发明人： 朱剑平 , 张保健 , 蒋宏图 , 凌万水
- 申请人： 上海金智晟东电力科技有限公司
- 申请人地址： 上海市徐汇区桂平路680号33幢6层
- 专利权人： 上海金智晟东电力科技有限公司
- 当前专利权人： 上海金智晟东电力科技有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市徐汇区桂平路680号33幢6层
- 代理机构： 贵阳中新专利商标事务所
- 代理人： 胡绪东
- 主分类号： G01R31/327
- IPC分类号： G01R31/327
摘要：
本发明公开了一种微弱信号抗干扰测量方法，该方法为：一二次融合开关的状态检测过程中，检测电路采用的集成运算放大器芯片参数为：失调电压典型值为15µV(A级)，偏置电流为0.4 nA，失调电流为0.1 nA，输出电流最高为±10 mA，失调电压产生的误差为(2×15µV)÷10 V=3 ppm。本发明采用失调电压典型值为15µV(A级)，偏置电流为0.4 nA，失调电流为0.1 nA，输出电流最高为±10 mA的集成运放，失调电压产生的误差约为(2×15µV)÷10 V=3 ppm，该集成运算放大器加强微弱信号的检出能力、低零漂和低偏置。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/327 | .电路断续器、开关或电路断路器的测试 |