基本信息:
- 专利标题： 一种磁阻元件测试工装和测试系统
- 申请号：CN202011164810.2 申请日：2020-10-27
- 公开(公告)号：CN112345806B 公开(公告)日：2024-03-15
- 发明人： 李求洋 , 张蓬鹤 , 徐英辉 , 陈思禹 , 熊素琴 , 袁翔宇 , 张保亮
- 申请人： 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号;
- 专利权人： 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人： 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号;
- 代理机构： 北京工信联合知识产权代理有限公司
- 代理人： 夏德政
- 主分类号： G01R1/04
- IPC分类号： G01R1/04
摘要：
本申请公开了一种磁阻元件的测试工装和测试系统，测试工装包括工装本体和压紧机构。工装本体包括工作面和探针，工作面配置成承载磁阻元件，探针配置成与置于工作面的磁阻元件的引脚相对设置，并在测试时与外部测试装置连接。压紧机构包括压紧面，压紧面配置成压紧置于工作面的磁阻元件，且使得探针与引脚接触。通过本申请的测试工装，在对磁阻元件进行测试时，无需将测试线路与磁阻元件进行电线连接，从而省去了接线、拆线操作，使得磁阻元件的测试操作更简单，同时，降低了人工操作过多带来的不稳定性，使得磁阻元件的测试结果更准确。
公开/授权文献:
- CN112345806A 一种磁阻元件测试工装和测试系统 公开/授权日：2021-02-09
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R1/00 | 包含在G01R5/00至G01R13/00和G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件 |
| --------G01R1/02 | .一般结构零部件 |
| ----------G01R1/04 | ..外壳；支承构件；端子装置 |