基本信息:
- 专利标题： 显示单元的异物检查系统
- 申请号：CN201980037559.2 申请日：2019-06-21
- 公开(公告)号：CN112219114A 公开(公告)日：2021-01-12
- 发明人： 李范硕 , 金赞洙 , 张应镇 , 白晟贤 , 林裕镇
- 申请人： 株式会社LG化学
- 申请人地址： 韩国首尔
- 专利权人： 株式会社LG化学
- 当前专利权人： 株式会社LG化学
- 当前专利权人地址： 韩国首尔
- 代理机构： 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理人： 赵丹; 尚光远
- 优先权： 10-2018-0072249 2018.06.22 KR
- 国际申请： PCT/KR2019/007473 2019.06.21
- 国际公布： WO2019/245313 KO 2019.12.26
- 进入国家日期： 2020-12-04
- 主分类号： G01N21/95
- IPC分类号： G01N21/95 ; G01N21/55 ; G01N21/94 ; G02B5/30
摘要：
本发明的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当所述入射光被所述显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。
公开/授权文献:
- CN112219114B 显示单元的异物检查系统 公开/授权日：2024-11-12
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |