![一种绝缘子三维尺寸测量方法及绝缘子三维尺寸测量系统](/CN/2020/1/151/images/202010758171.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种绝缘子三维尺寸测量方法及绝缘子三维尺寸测量系统
- 申请号:CN202010758171.6 申请日:2020-07-31
- 公开(公告)号:CN112082501B 公开(公告)日:2023-04-25
- 发明人: 张锐 , 武文华 , 袁金灿 , 姜璐璐 , 付超 , 曹晶 , 刘翔 , 汪英英 , 袁田 , 张勤 , 王昱晴 , 张虎 , 杨磊 , 唐芳 , 张秋芬 , 蔡勇 , 江山 , 郭靖 , 徐偲达 , 陈金猛 , 王兵 , 谢晓非 , 倪长爽
- 申请人: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网物资有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- 专利权人: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网物资有限公司
- 当前专利权人: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网物资有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- 代理机构: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- 代理人: 夏德政
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24 ; G01B11/08 ; G01B11/02 ; G01B11/03 ; G01B11/00
摘要:
本发明提供了一种绝缘子三维尺寸测量方法及绝缘子三维尺寸测量系统。该测量方法包括如下步骤:对待测绝缘子的整周间隔性地进行多组第一图像数据和第二图像数据的图像采集,各组中所述第一图像数据和所述第二图像数据的图像采集方向之间呈夹角设置;对各组所述第一图像数据和所述第二图像数据进行预处理,得到消除干扰信息的二值化图像;根据所述消除干扰信息的二值化图像重构待测绝缘子的三维模型;基于放大倍率对所述三维模型的尺寸进行尺度变换,计算所述待测绝缘子的物理尺寸。本发明通过重构待测绝缘子的三维模型,以便根据三维模型计算待测绝缘子的物理尺寸,提高了绝缘子非接触尺寸检查的效率、精度和质量。
公开/授权文献:
- CN112082501A 一种绝缘子三维尺寸测量方法及绝缘子三维尺寸测量系统 公开/授权日:2020-12-15
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
--------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |