基本信息:
- 专利标题： 一种小型化强激光功率探测结构
- 申请号：CN202010935199.2 申请日：2020-09-08
- 公开(公告)号：CN112050940A 公开(公告)日：2020-12-08
- 发明人： 不公告发明人
- 申请人： 中山科立特光电科技有限公司
- 申请人地址： 广东省中山市中山火炬开发区中心城区港义路创意产业园区3号商务楼附楼2501卡(集群登记、住所申报)
- 专利权人： 中山科立特光电科技有限公司
- 当前专利权人： 中山科立特光电科技有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省中山市中山火炬开发区中心城区港义路创意产业园区3号商务楼附楼2501卡(集群登记、住所申报)
- 主分类号： G01J1/58
- IPC分类号： G01J1/58
摘要：
本发明提供了一种小型化强激光功率探测结构，在弹性形变层的外表面设置反射层，在弹性形变层的内表面设置贵金属颗粒。应用时，连续谱光源发出光并耦合进入纤芯，纤芯端面反射光，应用光探测器探测纤芯端面的反射光谱；待测强激光照射在反射层上，由于光力效应，强激光对反射层和弹性形变层产生压力，从而导致弹性形变层向内侧形变，从而改变弹性形变层内侧面上的贵金属颗粒与纤芯端面之间的距离，从而改变贵金属颗粒的表面等离激元共振，通过探测反射光谱确定待测激光的功率。本发明具有尺寸小、实时测量和探测灵敏度高等优点。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J1/00 | 光度测定法，例如照相的曝光表 |
| --------G01J1/58 | .利用光致发光 |