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基本信息:
- 专利标题: 一种绝缘子的表面藻类密度的测算方法和装置
- 申请号:CN202011039696.0 申请日:2020-09-28
- 公开(公告)号:CN111986201A 公开(公告)日:2020-11-24
- 发明人: 肖微 , 贾志东 , 韦晓星 , 谭洁莹 , 罗兵 , 欧阳小刚 , 卢威 , 徐永生 , 陈少杰
- 申请人: 南方电网科学研究院有限责任公司 , 清华大学深圳国际研究生院
- 申请人地址: 广东省广州市黄埔区科学城科翔路11号
- 专利权人: 南方电网科学研究院有限责任公司,清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人: 南方电网科学研究院有限责任公司,清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人地址: 广东省广州市黄埔区科学城科翔路11号
- 代理机构: 广州三环专利商标代理有限公司
- 代理人: 麦小婵; 郝传鑫
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/90
摘要:
本发明公开了一种绝缘子的表面藻类密度的测算方法,包括:根据待测绝缘子所在地区,确定所述待测绝缘子的表面积累的灰密和藻细胞直径;获取所述待测绝缘子表面图像;计算所述待测绝缘子表面图像中藻类区域的特征绿值;根据所述待测绝缘子表面图像中的藻类区域的特征绿值、表面积累的灰密、藻细胞直径以及所述待测绝缘子的硅橡胶颜色,基于预先构建的藻类密度计算公式,计算所述待测绝缘子的表面藻类密度。本发明还公开了相应的测算装置,采用本发明实施例,通过读取待测绝缘子的图像中的特征绿值,以计算得到待测绝缘子表面的藻类密度,能够快速简便地获取绝缘子表面的藻类密度,实现无接触无损测算藻类密度。
公开/授权文献:
- CN111986201B 一种绝缘子的表面藻类密度的测算方法和装置 公开/授权日:2023-12-22
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G06 | 计算;推算;计数 |
----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
------G06T7/00 | 图像分析,例如从位像到非位像 |