基本信息:
- 专利标题： 一种表征纳米材料稳定性的方法
- 申请号：CN202010824858.5 申请日：2020-08-17
- 公开(公告)号：CN111965391B 公开(公告)日：2023-07-14
- 发明人： 沈彩 , 陈立杭 , 刘兆平
- 申请人： 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
- 申请人地址： 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号
- 专利权人： 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
- 当前专利权人： 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
- 当前专利权人地址： 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号
- 代理机构： 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理人： 杨威
- 主分类号： G01Q60/24
- IPC分类号： G01Q60/24 ; G01Q30/20
摘要：
本发明提供了一种表征纳米材料稳定性的方法，包括以下步骤：a)采用原子力显微镜的峰值力轻敲模式对待测的纳米材料进行原位扫描，得到不同时间的形貌图；b)通过对步骤a)得到的不同时间的形貌图中选择区域的面积变化，确定纳米刻蚀的速率，得到纳米材料稳定性的表征结果。与现有技术相比，本发明提供得方法首次提出通过原子力显微镜的峰值力轻敲模式对纳米材料稳定性进行表征，该方法操作简单、易于控制、稳定性好，并且表征结果直观、可靠，为研究纳米材料的稳定性提供了新的方法和思路。
公开/授权文献:
- CN111965391A 一种表征纳米材料稳定性的方法 公开/授权日：2020-11-20