基本信息:
- 专利标题： 一种基于核密度估计的贴片LED瑕疵标注方法
- 申请号：CN202010480388.5 申请日：2020-05-30
- 公开(公告)号：CN111724352A 公开(公告)日：2020-09-29
- 发明人： 董延超 , 宁少淳 , 冀玲玲 , 王浩天
- 申请人： 同济大学
- 申请人地址： 上海市杨浦区四平路1239号
- 专利权人： 同济大学
- 当前专利权人： 同济大学
- 当前专利权人地址： 上海市杨浦区四平路1239号
- 代理机构： 上海科盛知识产权代理有限公司
- 代理人： 应小波
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T5/00 ; G06K9/62
摘要：
本发明涉及一种基于核密度估计的贴片LED瑕疵标注方法，包括：步骤1：获得贴片LED图像；步骤2：建立基于核密度估计的分类器模型；步骤3：使用分类器模型对图像进行分类，判断图像是否为瑕疵类图像，若是，则执行步骤4，否则，将图像直接输出为非瑕疵类图像；步骤4：分别对瑕疵类图像中的瑕疵类像素点和非瑕疵类像素点进行标注；步骤5：对标注后的图像进行去噪处理，获得经过精细化标注的瑕疵类图像。与现有技术相比，本发明具有复杂度低、处理速度快、标注更加精细、实用性强等优点。
公开/授权文献:
- CN111724352B 一种基于核密度估计的贴片LED瑕疵标注方法 公开/授权日：2022-11-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |