基本信息:
- 专利标题： 集成电路裕度测量和故障预测设备
- 申请号：CN201880085236.6 申请日：2018-11-15
- 公开(公告)号：CN111587378A 公开(公告)日：2020-08-25
- 发明人： E·兰德曼 , S·科恩 , Y·大卫 , E·法尼 , I·温特罗布
- 申请人： 普罗泰克斯公司
- 申请人地址： 以色列海法
- 专利权人： 普罗泰克斯公司
- 当前专利权人： 普罗泰克斯公司
- 当前专利权人地址： 以色列海法
- 代理机构： 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理人： 袁策
- 优先权： 62/586,423 2017.11.15 US
- 国际申请： PCT/IL2018/051234 2018.11.15
- 国际公布： WO2019/097516 EN 2019.05.23
- 进入国家日期： 2020-07-03
- 主分类号： G01R31/3193
- IPC分类号： G01R31/3193 ; G01R31/52 ; G01R31/28
摘要：
本申请公开一种半导体集成电路(IC)，其包括信号路径组合器，该信号路径组合器包括输出路径和多个输入路径。该IC包括延迟电路，该延迟电路具有的输入电连接到输出路径，该延迟电路将输入信号延迟可变延迟时间以输出延迟的信号路径。该IC可以包括电连接到输出路径的第一存储电路和电连接到延迟的信号路径的第二存储电路。该IC包括比较电路，该比较电路将信号路径组合器的输出与延迟的信号进行比较，其中该比较电路包括比较输出，该比较输出以比较数据信号的形式提供到至少一个缓解电路。
公开/授权文献:
- CN111587378B 集成电路裕度测量和故障预测设备 公开/授权日：2023-04-04
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/319 | ....测试器硬件，即输出处理电路 |
| ----------------G01R31/3193 | .....通过在实际的响应与已知的无故障响应之间的比较 |