基本信息:
- 专利标题： 用于进行辐射成像和放射性物质监测的融合系统和方法
- 申请号：CN202010578035.9 申请日：2020-06-23
- 公开(公告)号：CN111487262A 公开(公告)日：2020-08-04
- 发明人： 陈志强 , 张金宇 , 唐华平 , 赵崑 , 金鑫 , 李东茂 , 张彤 , 李科 , 靳增雪 , 王凯 , 张国强 , 朱卫涛 , 林伟智 , 丁辉 , 韩喜林 , 张静
- 申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 汪洋
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; G01V5/00 ; G01T1/167
摘要：
本公开提供了用于对行李或包裹物品进行辐射成像和放射性物质监测的融合系统和方法。该融合系统包括：辐射成像子系统，该辐射成像子系统被配置成以脉冲模式运行以对行李或包裹物品进行辐射成像；放射性物质监测子系统，该放射性物质监测子系统被配置成以脉冲模式运行以监测所述行李或包裹物品是否含有放射性物质；和同步控制子系统，该同步控制子系统与辐射成像子系统和放射性物质监测子系统二者通信，并被配置成控制辐射成像子系统和放射性物质监测子系统交替地运行。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |