
基本信息:
- 专利标题: 一种磁探测精度的检测方法
- 申请号:CN202010056008.5 申请日:2020-01-16
- 公开(公告)号:CN111239838B 公开(公告)日:2022-04-12
- 发明人: 潘东华 , 林生鑫 , 靳崇渝 , 金银锡 , 葛宇航 , 李立毅
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
- 代理人: 刘景祥
- 主分类号: G01V3/38
- IPC分类号: G01V3/38 ; G01V3/08
摘要:
本发明提出了一种磁探测精度的检测方法,所述检测方法包括以下步骤:建立全方向磁探测模型,利用全方向定位误差分布图计算磁目标的方向对磁探测精度的影响规律,为实验检测中磁目标运动轨迹的选取提供依据;利用全方向精度分布曲线和全方向误差期望λ0,全面、准确地衡量磁探测方法的探测精度;通过全方向定位误差分布图找到有可能等效全方向磁探测模型的运动轨迹,利用总偏差率T选取能最准确地衡量磁探测精度的一条或多条运动轨迹;搭建实验平台,检测磁探测方法的探测精度。本发明能更加准确地检测磁探测方法的探测精度。
公开/授权文献:
- CN111239838A 一种磁探测精度的检测方法 公开/授权日:2020-06-05
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01V | 地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物 |
------G01V3/00 | 电或磁的勘探或探测;(用光学装置入G01V8/00);地磁场特性的测量;例如,磁偏角、磁偏差 |
--------G01V3/38 | .处理数据,例如,用于分析、用于解释、用于校正 |