
基本信息:
- 专利标题: 一种功率芯片终端结构、功率芯片终端结构的制作方法和装置
- 申请号:CN201911250604.0 申请日:2019-12-09
- 公开(公告)号:CN111129110A 公开(公告)日:2020-05-08
- 发明人: 董少华 , 金锐 , 刘江 , 高明超 , 刘钺杨 , 和峰 , 王耀华 , 李立 , 吴军民 , 潘艳
- 申请人: 全球能源互联网研究院有限公司
- 申请人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- 专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司
- 当前专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- 代理机构: 北京安博达知识产权代理有限公司
- 代理人: 徐国文
- 主分类号: H01L29/06
- IPC分类号: H01L29/06 ; H01L29/40 ; H01L29/739 ; H01L29/78 ; H01L29/868 ; H01L21/329 ; H01L21/331 ; H01L21/336
摘要:
本发明提供一种功率芯片终端结构、功率芯片终端结构的制作方法和装置,在N型衬底(1)的正面形成P型场限环(2)、截止环(4)和氧化层;在P型场限环(2)、截止环(4)上设置引线孔,基于引线孔在氧化层的正面形成内置场板(6)和截止环金属(9);在氧化层、内置场板(6)和截止环金属(9)的正面形成钝化层(7),终端结构不易失效;本发明中内置场板(6)的长度要求不高,降低了设计难度和复杂度;本发明提高了终端结构抗表面电荷玷污能力,降低了功率芯片对电荷的敏感性,进而提高了终端结构的可靠性;本发明工艺简单,与功率芯片传统制造工艺兼容,可实施性强;本发明适用于IGBT、VDMOS、FRD等多种功率芯片。