基本信息:
- 专利标题： 高低通分布式单谱段集成型光谱成像芯片结构
- 申请号：CN201911190019.6 申请日：2019-11-28
- 公开(公告)号：CN111024230B 公开(公告)日：2022-03-29
- 发明人： 刘舒扬 , 赵安娜 , 吕津玮 , 张晨 , 周涛 , 贾晓东
- 申请人： 天津津航技术物理研究所
- 申请人地址： 天津市东丽区空港经济区中环西路58号
- 专利权人： 天津津航技术物理研究所
- 当前专利权人： 天津津航技术物理研究所
- 当前专利权人地址： 天津市东丽区空港经济区中环西路58号
- 代理机构： 中国兵器工业集团公司专利中心
- 代理人： 周恒
- 主分类号： G01J3/12
- IPC分类号： G01J3/12
摘要：
本发明属于光谱成像技术领域，具体涉及一种高低通分布式单谱段集成型光谱成像芯片结构。所述芯片结构采用RGBG对应滤波单元呈两行两列排列的拜耳阵列结构，在CMOS传感器对应像素上集成不同滤波器，由四个微型滤波单元构成一个周期，按照该结构进行周期排列，形成单谱段光谱成像芯片的结构。其中，在每个所述周期中，包含两个相同中心波长的FPI滤波单元以及高通滤波单元、低通滤波单元；本发明中像素级微小高通滤波及低通滤波单元作为单谱段光谱成像微系统芯片结构组成部分，相对于现有技术依赖不同滤波器，该发明结构的单谱段光谱成像微系统结构应用简单，且半导体集成微小滤波单元相对于分立滤波器而言，成本较低，制作工艺成熟。
公开/授权文献:
- CN111024230A 高低通分布式单谱段集成型光谱成像芯片结构 公开/授权日：2020-04-17
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/12 | .光谱的产生；单色器 |