基本信息:
- 专利标题： 集成电路中的动态扫描链重新配置
- 专利标题（英）：DYNAMIC SCAN CHAIN RECONFIGURATION IN AN INTEGRATED CIRCUIT
- 申请号：CN201880030360.2 申请日：2018-05-07
- 公开(公告)号：CN110622016A 公开(公告)日：2019-12-27
- 发明人： P·T·肖杜里
- 申请人： 赛灵思公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 赛灵思公司
- 当前专利权人： 赛灵思公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京市金杜律师事务所
- 代理人： 郭星
- 优先权： 15/589,644 2017.05.08 US
- 国际申请： PCT/US2018/031445 2018.05.07
- 国际公布： WO2018/208692 EN 2018.11.15
- 进入国家日期： 2019-11-07
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185 ; G01R31/3187 ; G06F11/267 ; G06F11/27
摘要：
一种用于具有多个扫描链(108)的集成电路(IC)(100)的示例测试电路(103)包括：第一电路(102)和第二电路(104)；以及扫描链路由器(106)，耦合在第一电路与多个扫描链之间，并且耦合在第二电路与多个扫描链之间，扫描链路由器响应于使能信号：(1)将第一电路耦合到多个扫描链中的每个扫描链；或者(2)将第二电路耦合到一个或多个级联扫描链(109)，其中每个级联扫描链包括多个扫描链中的两个或更多个扫描链的级联。
摘要（英）：
An example test circuit (103) for an integrated circuit (IC) (100) having a plurality of scan chains (108) includes: a first circuit (102) and a second circuit (104); and a scan chain router (106) coupled between the first circuit and the plurality of scan chains and coupled between the second circuit and the plurality of scan chains, the scan chain router responsive to an enable signal to: (1) couple the first circuit to each of the plurality of scan chains; or (2) couple the second circuit to one or more concatenated scan chains (109), where each concatenated scan chain includes a concatenation of two or more of the plurality of scan chains.
公开/授权文献:
- CN110622016B 集成电路中的动态扫描链重新配置 公开/授权日：2022-10-28
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3185 | ....测试的重新配置，例如LSSD，划分 |