基本信息:
- 专利标题： 一种IGBT芯片测试用带有安全组件的检测工具
- 申请号：CN201910853557.2 申请日：2019-09-10
- 公开(公告)号：CN110470977B 公开(公告)日：2024-06-07
- 发明人： 王全 , 邹有彪 , 倪侠 , 徐玉豹 , 沈春福 , 王超
- 申请人： 富芯微电子有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市高新区香蒲路503号
- 专利权人： 富芯微电子有限公司
- 当前专利权人： 富芯微电子有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市高新区香蒲路503号
- 代理机构： 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 韩立峰
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R1/02
摘要：
本发明公开了一种IGBT芯片测试用带有安全组件的检测工具，包括装载盒和连接盒，所述装载盒和连接盒之间安装有冷却框，所述冷却框的内部装载有冷却水。所述装载盒靠近连接盒的一端中部设置有第二插孔，所述连接盒靠近装载盒的一端中部连接有插头，插头的内部贯穿设置有若干个装载孔，所述装载孔由第一通孔和第二通孔贯通连接组成，且第一通孔的内部在与第二通孔的连接处安装有金属导电板。挡板移动到连接盒远离冷却框的一端，连接线与焊接头的焊接处受到弹簧的拉力后被损坏，进而连接线的端部从接线头的端部脱离，连接盒高温损坏后不会影响到外部的检测器械。具有较高的防护性能，能使用中保护检测器械不易损坏。
公开/授权文献:
- CN110470977A 一种IGBT芯片测试用带有安全组件的检测工具 公开/授权日：2019-11-19
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |