基本信息:
- 专利标题： 一种一二次成套开关闭环测试方法
- 专利标题（英）：Closed-loop test method for primary and secondary switch set
- 申请号：CN201910615823.8 申请日：2019-07-09
- 公开(公告)号：CN110412454A 公开(公告)日：2019-11-05
- 发明人： 李志 , 杨瀚鹏 , 胡景博 , 郑志曜 , 高一波 , 余绍峰 , 苏毅方 , 吴钢 , 林建钦
- 申请人： 浙江华电器材检测研究所有限公司 , 国网浙江海盐县供电有限公司 , 国网浙江省电力有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市台州路217号
- 专利权人： 浙江华电器材检测研究所有限公司,国网浙江海盐县供电有限公司,国网浙江省电力有限公司
- 当前专利权人： 浙江华电器材检测研究所有限公司,国网浙江海盐县供电有限公司,国网浙江省电力有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市台州路217号
- 代理机构： 杭州华鼎知识产权代理事务所
- 代理人： 俞宏涛
- 主分类号： G01R31/327
- IPC分类号： G01R31/327 ; G01R35/02 ; G01R35/04
The invention relates to a closed loop test method for a primary and secondary switch set. A test system comprises a switching route device. The test method comprises the following steps that electrical connection is established, communication connection is established, the primary-side, secondary-side and integrated precision is tested, and a test report is generated. The test method has the advantages that a standard mutual inductor in the primary side can collect 16 channels at the same time and a standard mutual inductor in the second side can collect 8 channels at the same time, so that the precision of all channels can be tested in one time, time is saved, and it is ensured that the test condition is similar to the real condition; and the switching route device switches primary sidetest, secondary side test and integrated test, primary-side, secondary-side and integrated closed-loop test can be realized by once wiring, the automatic degree is high, and the detection efficiency is improved.
公开/授权文献:
- CN110412454B 一种一二次成套开关闭环测试方法 公开/授权日：2021-09-24
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/327 | .电路断续器、开关或电路断路器的测试 |