![基于孤子自频移的保偏光纤双折射系数的测量装置和方法](/CN/2019/1/93/images/201910467592.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 基于孤子自频移的保偏光纤双折射系数的测量装置和方法
- 申请号:CN201910467592.0 申请日:2019-05-31
- 公开(公告)号:CN110243574B 公开(公告)日:2021-02-09
- 发明人: 江俊峰 , 刘铁根 , 张永宁 , 王双 , 刘琨 , 丁振扬 , 张学智
- 申请人: 天津大学
- 申请人地址: 天津市南开区卫津路92号
- 专利权人: 天津大学
- 当前专利权人: 天津大学
- 当前专利权人地址: 天津市南开区卫津路92号
- 代理机构: 天津市北洋有限责任专利代理事务所
- 代理人: 李素兰
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本发明公开了一种基于孤子自频移的保偏光纤双折射系数的测量装置,包括飞秒激光器(1)、由电控液晶波片(2)、偏振分束棱镜(3)、二分之一波片(4)、扩束镜(5)以及光纤耦合镜(6构成的超短脉冲功率及偏振态调节部分、高非线性保偏光子晶体光纤(7)和由光纤准直扩束镜(8)、第一50:50分光片(9)、第一反射镜(10)、可调衰减片(11)、第二反射镜(12)、可调空间光延时线13以及第二50:50分光片(14)构成光谱相干及检测部分,通过光谱相干的方法测量快轴和慢轴方向光孤子的相对延时即可实现对光纤双折射系数的测量。本发明可测量波长大范围连续调节时光纤的双折射系数的变化、测量结果准确可靠。
公开/授权文献:
- CN110243574A 基于孤子自频移的保偏光纤双折射系数的测量装置和方法 公开/授权日:2019-09-17
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试;未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
------G01M11/00 | 光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |
--------G01M11/02 | .光学性质的测试 |