![超短激光脉冲多路延时同步测试方法](/CN/2019/1/92/images/201910462580.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 超短激光脉冲多路延时同步测试方法
- 申请号:CN201910462580.9 申请日:2019-05-30
- 公开(公告)号:CN110231098B 公开(公告)日:2021-01-01
- 发明人: 范薇 , 祁许昊 , 黄大杰 , 汪小超 , 张生佳
- 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址: 上海市嘉定区清河路390号
- 专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区清河路390号
- 代理机构: 上海恒慧知识产权代理事务所
- 代理人: 张宁展
- 主分类号: G01J11/00
- IPC分类号: G01J11/00
摘要:
一种超短激光脉冲延时同步测试方法,测控装置包括超短脉冲激光器、合束器、在线起偏器、光谱仪、计算机、分束器、n个校准延时器、n个同步延时器和n个待测光路,本发明通过光谱仪可以获得多个带测光路的光谱干涉图,把光谱仪数据导入计算机处理可以获得精确的延时差量。本发明可以检测单次信号或者具备一定重复频率激光信号的延时的变化情况,可以获得高精度的延时差量,有利于实现闭环控制。
公开/授权文献:
- CN110231098A 超短激光脉冲多路延时同步测试方法 公开/授权日:2019-09-13
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法 |
------G01J11/00 | 测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性 |