基本信息:
- 专利标题： 一种微米粒子光学检测装置
- 专利标题（英）：Microparticle optical detecting device
- 申请号：CN201811633456.6 申请日：2018-12-29
- 公开(公告)号：CN109724901A 公开(公告)日：2019-05-07
- 发明人： 武俊峰 , 吴一辉 , 李彦呈
- 申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 代理机构： 深圳市科进知识产权代理事务所
- 代理人： 吴乃壮
- 主分类号： G01N15/00
- IPC分类号： G01N15/00 ; G01N15/02
The invention provides a microparticle detecting device. The microparticle detecting device detects the size of the microparticles based on the Mie scattering theory, and reflects a main laser beam out of a diffused light beam propagation path by a reflecting component disposed on a main optical path of a laser, so that only a Mie scattered light is collected in the optical signal collected in thefinal optical receiver. According to the microparticle optical detecting device, by reducing the interference of the main laser beam to detection signals, noise during particle detection can be reduced and the signal-to-noise ratio can be improved; the scattering pattern of the obtained Mie scattered light is recorded and characterized, and the particles are marked to improve the accuracy of particle detection; and researchers can quickly and accurately detect the particles.
公开/授权文献:
- CN109724901B 一种微米粒子光学检测装置 公开/授权日：2020-10-13
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N15/00 | 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积 |