基本信息:
- 专利标题： 一种闪烁检测装置、方法及其应用
- 申请号：CN201811373485.3 申请日：2018-11-16
- 公开(公告)号：CN109342482B 公开(公告)日：2024-05-28
- 发明人： 章高发 , 赖俊辉
- 申请人： 深圳市福瑞康科技有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市光明新区新湖街道楼村社区凤新路新健兴科技工业园A2栋5楼西
- 专利权人： 深圳市福瑞康科技有限公司
- 当前专利权人： 深圳市福瑞康科技有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市光明新区新湖街道楼村社区凤新路新健兴科技工业园A2栋5楼西
- 代理机构： 广州嘉权专利商标事务所有限公司
- 代理人： 唐致明
- 主分类号： G01N23/2273
- IPC分类号： G01N23/2273
摘要：
本发明涉及闪烁检测技术领域，提供一种闪烁检测方法、装置、固态闪烁体和样品采集装置，采用固态闪烁体作为被激发对象。含有放射性核素的检测样品在暗室环境中发射出β‑粒子，所述β‑粒子在同一暗室环境中激发所述固态闪烁体发射出光子，所述光子在同一暗室环境中被光电闪烁探测器检测计数，根据预设程序对所述检测计数进行判断，输出判断结果。本发明由于采用了固态闪烁体进行闪烁检测，提供了一种全新的闪烁检测方案，具有操作简单、高效准确等优点。
公开/授权文献:
- CN109342482A 一种闪烁检测方法、装置、固态闪烁体和样品采集装置 公开/授权日：2019-02-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/225 | ..利用电子或离子微探针 |
| ------------G01N23/2273 | ...测量光电子光谱，例如用于化学分析的电子光谱 |