基本信息:
- 专利标题： 一种紧凑型差分干涉成像光谱仪及其成像方法
- 申请号：CN201710641214.0 申请日：2017-07-31
- 公开(公告)号：CN109324023B 公开(公告)日：2024-04-12
- 发明人： 冯玉涛 , 尹诗 , 郝雄波 , 李娟 , 傅頔 , 白清兰 , 孙剑 , 胡炳樑 , 刘学斌
- 申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构： 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理人： 汪海艳
- 主分类号： G01N21/45
- IPC分类号： G01N21/45
摘要：
本发明涉及一种紧凑型差分干涉成像光谱仪及其成像方法，包括沿光路设置的望远系统、滤波片、低色散模块、高色散模块、检偏器及探测器；低色散模块与高色散模块均包括偏振分束棱镜、依次设置在偏振分束棱镜透射光路中的四分之一波片、扩视场棱镜与闪耀光栅及设置在偏振分束棱镜反射光路中的四分之一波片、扩视场棱镜与闪耀光栅；望远系统用于收集观测目标的光谱辐射；滤波片用于将收集观测目标的光谱辐射滤波；低色散模块用于将滤波后的光线分光，高色散模块用于光线聚集并射出；检偏器用于将出射光合束，探测器用于接收检偏器出射的干涉图像并将望远系统收集的光谱辐射成像。将本发明应用在大气成分探测中，可以通过获得的光谱信息获得大气成分。
公开/授权文献:
- CN109324023A 一种紧凑型差分干涉成像光谱仪及其成像方法 公开/授权日：2019-02-12
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/45 | ...利用干涉量度法，利用纹影方法 |