![基于挡墙侧移监测数据的基坑反分析方法](/CN/2018/1/233/images/201811169118.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 基于挡墙侧移监测数据的基坑反分析方法
- 申请号:CN201811169118.1 申请日:2018-10-08
- 公开(公告)号:CN109101776A 公开(公告)日:2018-12-28
- 发明人: 仉文岗 , 陈福勇 , 张艳梅 , 章润红
- 申请人: 重庆大学产业技术研究院
- 申请人地址: 重庆市九龙坡区金凤镇新凤大道99号
- 专利权人: 重庆大学产业技术研究院
- 当前专利权人: 重庆大学产业技术研究院
- 当前专利权人地址: 重庆市九龙坡区金凤镇新凤大道99号
- 代理机构: 重庆缙云专利代理事务所
- 代理人: 王翔
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50
摘要:
发明提供基于挡墙侧移监测数据的基坑反分析方法。该方法通过开挖初步阶段挡墙侧移监测值与挡墙侧移理论计算值进行比较,逐步反求校核土体参数,把上一开挖阶段求得的新土体参数用于下一步开挖的挡墙侧移预测,如此反复,其预测精度逐步提高,保证开挖到既定深度的挡墙侧移预测值和监测值误差很小。同时该方法将可靠度设计的概念融入到了挡墙侧移的预测中,考虑了土体变异性,更加符合工程实际。本发明计算简便,工程可操作性强,可供基坑有关设计施工人员使用,有效地预测基坑变形,动态调整支护结构设计。本发明可编写成简单的程序软件,适合推广使用。
公开/授权文献:
- CN109101776B 基于挡墙侧移监测数据的基坑反分析方法 公开/授权日:2022-12-09