基本信息:
- 专利标题： 一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质
- 申请号：CN201810572486.4 申请日：2018-06-06
- 公开(公告)号：CN109001731B 公开(公告)日：2022-11-01
- 发明人： 罗京辉 , 杨志高 , 郑长利 , 成志强 , 王涌 , 李学仕 , 王晓霞
- 申请人： 中国电子科技集团公司第二十九研究所
- 申请人地址： 四川省成都市金牛区营康西路496号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第二十九研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第二十九研究所
- 当前专利权人地址： 四川省成都市金牛区营康西路496号
- 代理机构： 成都九鼎天元知识产权代理有限公司
- 代理人： 徐静
- 主分类号： G01S13/90
- IPC分类号： G01S13/90
摘要：
本发明涉及测绘科学或合成孔径雷达干涉测量技术领域。本发明针对如何确定可靠解缠参考点保证相位解缠精度的问题，提供一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质；本发明计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；获取相干图B的子区域C中，相干性最大值对应的干涉点；计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点。
公开/授权文献:
- CN109001731A 一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质 公开/授权日：2018-12-14