基本信息:
- 专利标题： 设备的测试方法、装置、系统、存储介质和处理器
- 专利标题（英）：Device test method, device and system, storage medium and processor
- 申请号：CN201711213650.4 申请日：2017-11-27
- 公开(公告)号：CN108169584A 公开(公告)日：2018-06-15
- 发明人： 肖永立 , 蔡庆 , 郑同伟 , 孙军 , 郑正 , 汪眸 , 张达 , 黄楠 , 段文洁 , 刘少波 , 高圣 , 见伟
- 申请人： 国网北京市电力公司 , 国家电网公司
- 申请人地址： 北京市西城区区前门西大街41号;
- 专利权人： 国网北京市电力公司,国家电网公司
- 当前专利权人： 国网北京市电力公司,国家电网公司
- 当前专利权人地址： 北京市西城区区前门西大街41号;
- 代理机构： 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 赵囡囡
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本发明公开了一种设备的测试方法、装置、系统、存储介质和处理器。该方法包括：向目标设备输入模拟的开入信号；获取目标设备输出的与开入信号对应的目标报文；通过目标报文对应的通道状态确定目标设备的性能指标。通过本发明，达到了提高设备的测试效率的效果。
摘要（英）：
The present invention discloses a device test method, device and system, a storage medium and a processor. The method comprises the steps of: inputting simulated switching-in signals to a target device; obtaining a target message corresponding to the switching-in signals and output by the target device; and determining performance indexes of the target device through a channel state correspondingto the target message. According to the invention, an effect of improving device test efficiency is achieved.
公开/授权文献:
- CN108169584B 设备的测试方法、装置、系统、存储介质和处理器 公开/授权日：2021-03-16
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |