基本信息:
- 专利标题： 基于二进制向量的测试设备
- 专利标题（英）：Test Apparatus Based on Binary Vector
- 申请号：CN201710342176.9 申请日：2017-05-16
- 公开(公告)号：CN107391322A 公开(公告)日：2017-11-24
- 发明人： 尹柱盛 , 申圣燮 , 李文镐 , 崔云燮
- 申请人： 三星电子株式会社
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理人： 邵亚丽; 张婧
- 优先权： 10-2016-0060361 2016.05.17 KR
- 主分类号： G06F11/22
- IPC分类号： G06F11/22 ; G06F11/263
摘要：
一种测试设备，包括被测装置(DUT)和测试控制器，其中被测装置被配置为使用串行接口协议来交换数据，测试控制器被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量并缓冲和发送接收的二进制向量至DUT。
摘要（英）：
A test apparatus includes a device under test (DUT) configured to exchange data using a serial interface protocol and a test controller configured to receive a binary vector corresponding to a physical layer of the serial interface protocol from an external device and to buffer and transmit the received binary vector to the DUT.
公开/授权文献:
- CN107391322B 基于二进制向量的测试设备 公开/授权日：2021-11-23