基本信息:
- 专利标题： 一种提高微机电系统近红外光谱仪吸光度重复性的方法
- 专利标题（英）：Method for improving absorbance repeatability of near-infrared spectrometer of micro-electro-mechanical system (MEMS)
- 申请号：CN201710124029.4 申请日：2017-03-03
- 公开(公告)号：CN107064055A 公开(公告)日：2017-08-18
- 发明人： 苏春保 , 陈夕松 , 王杰 , 冯攀峰
- 申请人： 南京富岛信息工程有限公司
- 申请人地址： 江苏省南京市浦口高新开发区桐雨路6号
- 专利权人： 南京富岛信息工程有限公司
- 当前专利权人： 南京富岛信息工程有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省南京市浦口高新开发区桐雨路6号
- 代理机构： 南京天华专利代理有限责任公司
- 代理人： 刘畅; 夏平
- 主分类号： G01N21/359
- IPC分类号： G01N21/359 ; G05B11/42
The invention discloses a method for improving the absorbance repeatability of a near-infrared spectrometer of a micro-electro-mechanical system (MEMS). The method comprises the steps of determining matching relationships between an x-direction deflection angle and a y-direction deflection angle of a micro-mirror and different drive voltages through a static relative gain matrix; and adopting the deflection angle corresponding to the maximum value of the light intensity of a sample as a control objective, designing a decoupling network and adopting a PID control algorithm. The deflection angle of an MEMS micro-mirror in operation is effectively controlled, the absorbance repeatability of a Fourier transformation-based MEMS spectrometer is significantly improved, and improvement of the quality and prediction accuracy of a near-infrared detection model is facilitated.
公开/授权文献:
- CN107064055B 一种提高微机电系统近红外光谱仪吸光度重复性的方法 公开/授权日：2019-07-23
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术 |
| --------------G01N21/35 | ....利用红外光 |
| ----------------G01N21/359 | .....利用近红外光 |