![半导体器件以及具有该半导体器件的反相器](/CN/2016/1/174/images/201610873691.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 半导体器件以及具有该半导体器件的反相器
- 申请号:CN201610873691.5 申请日:2016-09-30
- 公开(公告)号:CN106981485B 公开(公告)日:2020-07-17
- 发明人: 金文铉 , 卢昶佑 , 赵槿汇 , 姜明吉 , 前田茂伸
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理人: 张帆; 崔卿虎
- 优先权: 10-2015-0141584 2015.10.08 KR
- 主分类号: H01L27/088
- IPC分类号: H01L27/088 ; H01L29/423 ; H03K19/0185
摘要:
本发明公开了一种CMOS器件和CMOS反相器。CMOS器件包括:衬底,其具有在第一方向上延伸且由器件隔离层限定的有源线,所述衬底被划分为NMOS区、PMOS区以及介于NMOS区与PMOS区之间且具有器件隔离层而不具有有源线的边界区;栅线,其在第二方向上延伸与有源线交叉,并且具有位于NMOS区中的有源线上的第一栅极结构、位于PMOS区中的有源线上的第二栅极结构以及位于边界区中的器件隔离层上的第三栅极结构。第三栅极结构的电阻和寄生电容小于第一栅极结构和第二栅极结构的电阻和寄生电容。因此,可获得CMOS器件更好的AC性能和DC性能。
公开/授权文献:
- CN106981485A 半导体器件以及具有该半导体器件的反相器 公开/授权日:2017-07-25
IPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L27/00 | 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件 |
--------H01L27/02 | .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的 |
----------H01L27/04 | ..其衬底为半导体的 |
------------H01L27/06 | ...在非重复结构中包括有多个单个组件的 |
--------------H01L27/085 | ....只包含场效应的组件 |
----------------H01L27/088 | .....有绝缘栅场效应晶体管的组件 |