基本信息:
- 专利标题： 一种用于样品中低浓铀、镎、钚直接测定的分析方法
- 专利标题（英）：Analytical method for direct determination of low-concentration uranium, neptunium and plutonium in samples
- 申请号：CN201511016813.0 申请日：2015-12-29
- 公开(公告)号：CN106932423A 公开(公告)日：2017-07-07
- 发明人： 吉永超 , 汪南杰 , 赵爱 , 马精德 , 牟凌 , 刘雷明 , 姜国杜 , 陈强 , 蒋军清 , 曹希 , 龚焱平 , 王卫斌 , 夏钢建 , 杨松涛 , 何南玲 , 张红英
- 申请人： 中核四○四有限公司
- 申请人地址： 甘肃省兰州市508信箱1分箱
- 专利权人： 中核四○四有限公司
- 当前专利权人： 中核四○四有限公司
- 当前专利权人地址： 甘肃省兰州市508信箱1分箱
- 代理机构： 核工业专利中心
- 代理人： 吕岩甲
- 主分类号： G01N23/223
- IPC分类号： G01N23/223
The invention belongs to the technical field of spent fuel posttreatment and particularly relates to an analytical method for direct determination of low-concentration uranium, neptunium and plutonium in samples. The method includes the following steps of preparation of nitric acid-hydrofluoric acid, sampling of plutonium standard substances and uranium standard substances, standard substance powder dissolution, preparation of stock solutions of uranium and plutonium, preparation of uranium, neptunium and plutonium series standards and measurement of the series standards. The analytical method for direct determination of the low-concentration uranium, neptunium and plutonium in the samples can meet the control analysis need of a waste minimization and spent fuel post-treatment process.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/223 | ..通过用X射线辐照样品以及测量X射线荧光 |