基本信息:
- 专利标题： 一种IGBT模块测试装置
- 申请号：CN201710004029.0 申请日：2017-01-04
- 公开(公告)号：CN106707130B 公开(公告)日：2019-05-03
- 发明人： 方杰 , 李义 , 彭勇殿 , 窦泽春 , 吴义伯 , 宋自珍 , 陈彦 , 万超群 , 余伟 , 罗海辉
- 申请人： 株洲中车时代电气股份有限公司
- 申请人地址： 湖南省株洲市石峰区时代路169号
- 专利权人： 株洲中车时代电气股份有限公司
- 当前专利权人： 株洲中车时代半导体有限公司
- 当前专利权人地址： 湖南省株洲市石峰区时代路169号
- 代理机构： 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理人： 罗满
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26
The invention discloses an IGBT module testing device, which comprises a testing tool comprising probes and having a fixed position, and a hot plate used for fixing an IGBT module, wherein the hot plate can drive the IGBT module to move in the direction of the testing tool, so as to realize contact of needle-shaped terminals of the IGBT and the probes; and conductive sheets are arranged between the needle-shaped terminals and the probes, and each conductive sheet comprises an inclined end which is to be in contact with the corresponding needle-shaped terminal and a horizontal end which is to be in contact with the corresponding probe. The IGBT module testing device improves the stability of tests, eliminates the mechanical damage caused by the needle-shaped terminals of the IGBT module during the test process, and prolongs the service life.
公开/授权文献:
- CN106707130A 一种IGBT模块测试装置 公开/授权日：2017-05-24
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |