基本信息:
- 专利标题： 硬件在环测试故障信号触发方法和装置
- 专利标题（英）：Method and device for triggering hardware-in-the-loop test fault signals
- 申请号：CN201610970348.2 申请日：2016-11-04
- 公开(公告)号：CN106597212A 公开(公告)日：2017-04-26
- 发明人： 庞松岭 , 张奇伟 , 叶世锋 , 刘广业 , 魏明洋 , 洪同庆 , 邹毅军 , 王志鹏
- 申请人： 海南电力技术研究院 , 上海科梁信息工程股份有限公司
- 申请人地址： 海南省海口市滨海大道123-8号信恒大厦13楼;
- 专利权人： 海南电力技术研究院,上海科梁信息工程股份有限公司
- 当前专利权人： 海南电力技术研究院,上海科梁信息工程股份有限公司
- 当前专利权人地址： 海南省海口市滨海大道123-8号信恒大厦13楼;
- 代理机构： 北京瑞思知识产权代理事务所
- 代理人： 李涛
- 主分类号： G01R31/08
- IPC分类号： G01R31/08
The invention provides a method and a device for triggering hardware-in-the-loop test fault signals. The method comprises the steps of judging whether the current phase of the main circuit voltage of a to-be-detected hardware is consistent with a preset phase or not; on the condition that the current phase is consistent with the preset phase, generating a fault signal of a preset fault type and used for testing the to-be-detected hardware at a preset fault point, and starting the timing process at the same time of generating the fault signal; when the timing value reaches a preset time value, stopping the fault signal. According to the technical scheme of the invention, the problem in the prior art that at a random fault triggering angle, the test result of the hardware-in-the-loop test cannot quantitatively reflect the test condition of the system can be solved. Meanwhile, the test accuracy of the hardware-in-the-loop test is improved.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/08 | .探测电缆、传输线或网络中的故障 |