基本信息:
- 专利标题： MEMS非接触式高压直流验电器
- 专利标题（英）：MEMS non-contact high-voltage direct current electroscope
- 申请号：CN201611134058.0 申请日：2016-12-10
- 公开(公告)号：CN106597065A 公开(公告)日：2017-04-26
- 发明人： 潘巍巍 , 孔晓峰 , 方玉群 , 刘庭 , 张宇娇 , 潜力群 , 秦威南 , 普子恒 , 黄雄峰
- 申请人： 国网浙江省电力公司金华供电公司 , 中国电力科学研究院 , 三峡大学
- 申请人地址： 浙江省金华市双溪西路428号; ;
- 专利权人： 国网浙江省电力公司金华供电公司,中国电力科学研究院,三峡大学
- 当前专利权人： 国网浙江省电力公司金华供电公司,中国电力科学研究院,三峡大学
- 当前专利权人地址： 浙江省金华市双溪西路428号; ;
- 代理机构： 杭州华鼎知识产权代理事务所
- 代理人： 项军
- 主分类号： G01R19/145
- IPC分类号： G01R19/145 ; G01R31/28 ; G01R35/00
The invention relates to an MEMS non-contact high-voltage direct current electroscope which is characterized by including an MEMS AC-DC electric field detection probe for acquiring the electric field signal in the scene; a signal acquisition unit for receiving the electric field signal and performing denoising; a micro-controller which receives the electric field signal after the denoising and generates a positive signal or a negative signal based on the electric field signal; and an acousto-optic alarm module for displaying the positive or negative signal. The MEMS electric field realizes the electric field detection based on the principle of charge sensing, and includes an excitation electrode, a shielding electrode and an induction electrode. A MEMS electric field sensitive chip adopts advanced micro-processing technology, and has the advantages of small size, low cost, low power consumption, easy integration, and mass production.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R19/00 | 用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置 |
| --------G01R19/145 | .指示电流或电压的存在 |